ICT測試儀測試方式7

    ICT測試儀測試方式7

     7）、場效感應管（測試類別：F）

這方法是測試場效感應管的V_DS ，通過調節柵極電壓V_G (Drive)及負載R_c(Range)。無論是N-Channel
或P-Channel，漏極（D）針號設在CH+，源極（S）針號設在CH-，柵極（G）針號設在G1。
V_G 調節范圍為：-2000mV~5000mV（N-FET及P-FET）。Rc調節范圍為：1（200歐）、2（100歐）、
3（67歐）。
a).N-FET
                               

    當V_G為正值且越大時，I_DS也越大， D極與S極導通越好，V_DS相對越小， 這是N-FET的特性。相反地，當V_G為負值
    且越小時， I_DS也越小，D 極與 S極阻抗越大，V_DS越接近5V。

    若只測試組件是否存在，只將V_G調至5V 即可，若還想測試組件是否有短路， 可加多一測試步，將V_G 調至0即可。
      b).P-FET 

                                           

   當V_G為負值且越小時，I_DS也越大，D極與S極導通越好，V_DS相對越小，這是P-FET的特性。相反地，當V_G為正值
   且越大時,I_DS也越小，D極與S 極阻 抗越大，V_DS越接近5V。
   若只測試組件是否存在，只將V_G調至-2V即可，若還想測試組件是否有短路，可加多一測試步，將V_G調至0V即可。