ICT測試儀開/短路測試程序的調試
生成開/短路測試數據文件后，為穩定及保險起見，請在開/短路自學習完畢后選擇Test對本開/短路測試程序進行測試。
測試時機器會先作開路測試（Open Test）,它是在同一鏈上，針號與針號作開路測試；后作短路測試（Short Test），它是在不同鏈上針號與針號作短路測試。
例： Chain Node
1 1
2 6 12
25 40
2 3
11 19 32
在鏈1作開路測試：1-2、1-6 、1-12、1-25、1-40
在鏈2作開路測試：3-11、3-19、3-32
若鏈1、鏈2通過開路測試，則用鏈頭（Chain Head）作短路測試，即：1-3
在開路測試時，針號與針號的電阻若少于開路門檻值（Open Res），則當作短路,此時開路測試Pass；在短路測試時，針號與針號的電阻若大于短路門檻值（Short Res），則當作開路,此時短路測試Pass。
注：開/短路設有兩個門檻值，主要原因是形成一個范圍，使組件值的差異不致使有不穩定或誤判的情況發生。
測試后若程序穩定，則屏幕左下角推出“PASS”，請下壓針床壓頭來回幾次及測試幾次，以觀察其是否穩定，若出現“FAIL”，則作以下處理：
A、 徹底檢查顯示出的測試針（針號）是否接觸不良
B、在保證測試針接觸良好的情況下，若出現測試時好時壞，則查清是否受電感線圈的影響，如果是，則跳過顯示出的針號，操作方法：確認光標在要跳過的針號項時選擇O/S
Edit/Mask，這時針號項會變成紅色，表明已跳過這一針號。
注：因電感線圈在瞬間得電時會產生感生電壓，可能會影響開/短路的測試，而使得測試程序工作不穩定。若某幾個測試針編號常出錯，而查實的確為此類問題，則有必要跳過這幾個測試針的編號。
被跳過的測試點在開/短路測試時將不考慮該測試點與其它測試點的開/短路關系，但并不影響組件的測試。
振華科技