這是我司ICT測試T800F基本性能的介紹：
出錯組件顯示：顯示電路板的圖形并自動顯示出錯組件的位置。
超強調試方式：主要針對作進一步微調試程序，優化測試結果，可編改驅動電流，延遲及測試頻率。
波型分析儀：直接觀察測試波形，以便更改測試的延遲時間，無需盲目多次嘗試。
電解電容反插檢測：透過測量外殼的電壓 或漏電電流可判斷電容是否反插。
二極管測試：可區別功率、訊號和齊納二極管。
晶體管三點測試: 可測hFE值。
場效應管（FET）測試：能測是否存在和短路。
光藕測試: 能測是否開路和短路。
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